ProFoss™ 분석기는 각 애플리케이션
영역에 가장 적합한 반사 또는 투과 기술을 기반으로 하는 전용 인터페이스와 함께 사용할 수 있습니다is available with dedicated.
측정은 공정 상에 움직이는 시료에서
직접 수행됩니다. 고밀도 듀얼 램프 광원은
직접 또는 광섬유를 통해 시료를
밝힙니다. 빛은 시료와 상호 작용하며
반사되거나 투과된 빛은 다이오드 어레이 센서에 의해
측정됩니다. 듀얼 램프 시스템의 백업 램프
안전 가동 시간 및 분석 정확도는 새 램프로
전환한 후에도 변경되지 않습니다.
전체 파장 범위는 순간적으로 측정되어 빠르게 이동하는 시료에서도 측정을 정확하게 할 수 있습니다. 장치 간에 데이터베이스를 이설할 수 있어 다른 측정 지점으로 쉽게 확장할 수 있습니다. 공정 관리 시스템에 통합은 FOSS OPC 인터페이스를 통해 수행할 수 있습니다.